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产品分类
产品简介
1)和材料有关
2)测量基于Si02on si结构
3)测量基于对于500纳米Si02onSi结构，重复30次的1阶标准偏差
4)对于Si02on Si标准样品，每天测三次，取平均值，重复30天取1阶标准偏差
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产品详情
A3-SRmapping系列在线膜厚检测系统
- 参考报价：
- 面议
- 品牌：
- 昆山胜泽
- 关注度：
- 30
- 样本：
- 暂无
- 型号：
- A3-SRmapping系列在线膜厚检测系统
- 产地：
- 江苏
- 信息完整度：
- 典型用户：
- 暂无
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